IEEE DES TEST是IEEE Design & Test期刊的縮寫。IEEE DES TEST期刊的出版地是UNITED STATES，主要的研究方向是工程技術(shù)-計算機：硬件。

IEEE設(shè)計與測試提供了描述用于設(shè)計和測試微電子系統(tǒng)的模型、方法和工具的原創(chuàng)作品，從設(shè)備和電路到完整的片上系統(tǒng)和嵌入式軟件。該雜志專注于當(dāng)前和近期的實踐，包括教程、入門文章和現(xiàn)實案例研究。該雜志力求通過專欄、訪談和圓桌討論，為讀者帶來重要的技術(shù)進步，同時也為技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者及其觀點。主題包括半導(dǎo)體集成電路設(shè)計、半導(dǎo)體知識產(chǎn)權(quán)模塊、設(shè)計、驗證和測試技術(shù)、制造和生產(chǎn)設(shè)計、嵌入式軟件和系統(tǒng)、低功耗和節(jié)能設(shè)計、電子設(shè)計自動化工具、實用技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)。

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